Artículo:

Local Tomography in Electron Microscopy

Autor:

Eric Todd Quinto

Ozan Öktem

Página:

1282

Publicación:

SIAM Journal on Applied Mathematics

Volúmen:

68

Número:

5

Periodo:

October 2008

ISSN:

00361399

SrcID:

00361399-2008-05.txt