- Artículo:
Two-Way Random-Effects Analyses and Gauge R&R Studies
- Autor:
Stephen B. Vardeman
Enid S. VanValkenburg
- Página:
202
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
41
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1999
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1999-03.TXT
- Documento número 1446062
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:49:52 p. m.
- Creado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:49:52 p. m.
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