- Artículo:
Reliability Of Capacitive RF MEMS Switches At High And Low Temperatures.
- Autor:
H. D. Espinosa
- Página:
317
- Publicación:
INTERNATIONAL JOURNAL OF RF AND MICROWAVE COMPUTER AIDED ENGINEERING ISSN 10964290
- Volúmen:
14
- Número:
4
- Periodo:
JULY 2004
- SrcID:
2004-04RF.txt
- Documento número 1502084
- Actualizado el miércoles, 19 de mayo de 2021 02:27:58 p. m.
- Creado el miércoles, 19 de mayo de 2021 02:27:58 p. m.
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