- Artículo:
Introduction to JTAG
- Autor:
Rob Oshana
- Resumen:
Surface-Mount Technology Rang the Death Knell for Bed-Of-Nails Testing. That's Why A Consortium of Companies Called the Joint Test Access Group Came Together to Define a Standard For Boundary-Scan Testing of ICs and Boards
- Página:
63
- Publicación:
Embedded Systems Programming
- Volúmen:
15
- Número:
11
- Periodo:
Noviembre 2002
- ISSN:
15582493
- SrcID:
15582493-2002-11.txt
- Documento número 1574773
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 11:52:50 a. m.
- Creado el lunes, 13 de marzo de 2023 11:52:50 a. m.
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