- Artículo:
Two-Way Random-Effects Analyses and Gauge R&R Studies
- Autor:
Stephen B. Vardeman
Enid S. Van Valkenburg
- Página:
202
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
41
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1999
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1999-03.TXT
- Documento número 1699470
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:30 p. m.
- Creado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:30 p. m.
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