Artículo:

Run- Related probability functions applied to sampling Inspection

Autor:

Galit Shmueli

Ayala Cohen

Página:

188

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

42

Número:

2

Periodo:

Mayo 2000

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706 -2000-02.TXT