- Artículo:
Analysis by x-ray photoelectron spectroscopy/depth profiling of thin, gasoline-derived deposit films
- Autor:
Spyros I. Tseregounis
- Página:
1954
- Publicación:
Industrial & Engineering Chemistry Research
- Volúmen:
29
- Número:
9
- Periodo:
Septiembre 1990
- ISSN:
08885885
- SrcID:
08885885-1990-09.txt
- Documento número 194141
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 03:47:53 p. m.
- Creado el martes, 23 de mayo de 2017 03:47:53 p. m.
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