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Artículo:

Analyzing noise robustness of wide fan-in dynamic logic gates under process variations

Autor:

Fabio Frustaci

Página:

452

Publicación:

International Journal of Circuit Theory and Applications

Volúmen:

42

Número:

5

Periodo:

Mayo 2014

ISSN:

00989886

SrcID:

00989886-2014-05.txt

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