- Artículo:
Reliability and Risk: A Bayesian Perspective
- Autor:
Ghosh, Subir
- Página:
88
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
1
- Periodo:
febrero 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-01.txt
- Documento número 464181
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 04:11:18 p. m.
- Creado el martes, 23 de mayo de 2017 04:11:18 p. m.
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