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Artículo:

Nanocrystalline copper films are never flat

Autor:

XIAOPU ZHANG

JIAN HAN

JOHN J. PLOMBON

Resumen:

Scanning tunneling microscopy reveals ridges and valleys in films created by defects at grain boundaries.

Página:

397

Publicación:

Science

Volúmen:

357

Número:

6349

Periodo:

28 julio 2017

ISSN:

00368075

SrcID:

00368075-2017-07-28.txt

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