- Artículo:
The Effect of White-Noise Mask Level on Sinewave Contrast Detection Thresholds and the Critical-Band-Masking Model
- Autor:
Ignacio Serrano Pedraza
Vicente Sierra Vázquez
- Página:
249
- Publicación:
Spanish Journal of Psychology, The
- Volúmen:
9
- Número:
2
- Año:
2006
- ISSN:
11387416
- SrcID:
11387416-2006-02.txt
- Documento número 664322
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:29:01 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 10:29:01 a. m.
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