Artículo:

A closer look at attention to detail

Autor:

James J. Cappel

Victor R. Orybutok

Benny Varghese

Página:

87

Sección:

Articles

Publicación:

Communications Of The ACM

Volúmen:

48

Número:

7

Periodo:

July 2005

ISSN:

00010782

SrcID:

00010782-2005-07.txt