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Artículo:

An Accelerated Life Test Model Based on Reliability Kinetics

Autor:

William Q. Meeker

Michael J. LuValle

Página:

133

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

37

Número:

2

Periodo:

Mayo 1995

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-1995-02.TXT

  • Documento número 1445955
  • Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:47:19 p. m.
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Artículo:

Confidence Limits for Recurrence Data--Applied to Cost or Number of Product Repairs

Autor:

Wayne Nelson

Página:

147

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

37

Número:

2

Periodo:

Mayo 1995

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-1995-02.TXT

  • Documento número 1445956
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Artículo:

Some Simple Robust Methods for the Analysis of Recurrent Events

Autor:

J. F. Lawless

C. Nadeau

Página:

158

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

37

Número:

2

Periodo:

Mayo 1995

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-1995-02.TXT

  • Documento número 1445957
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Artículo:

A Nonparametric Test of the Weakest-Link Principle

Autor:

Linda C. Wolstenholme

Página:

169

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

37

Número:

2

Periodo:

Mayo 1995

ISSN:

00401706

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00401706-1995-02.TXT

  • Documento número 1445958
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Artículo:

A Two-Component Model for Measurement Error in Analytical Chemistry

Autor:

David M. Rocke

Stefan Lorenzato

Página:

176

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

37

Número:

2

Periodo:

Mayo 1995

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-1995-02.TXT

  • Documento número 1445959
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