- importsource = "00401706 -1997-03.TXT"
- Artículo:
Monitoring Wafer Map Data From Integrated Circuit Fabrication Processes for Spatially Clustered Defects
- Autor:
Mark H. Hansen
Vijayan N. Nair
David J. Friedman
- Página:
241
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1997-03.TXT
- Documento número 1446018
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:48:42 p. m.
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- Artículo:
Regression Analysis for a Functional Response
- Autor:
Julian J. Faraway
- Página:
254
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1997-03.TXT
- Documento número 1446019
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- Artículo:
Local Polyrlomial Variance-Function Estimation
- Autor:
David Ruppert
M.P. Wand
Ulla Holst
Ola Hossjer
- Página:
262
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1997-03.TXT
- Documento número 1446020
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- Artículo:
An Analysis-of-Means-Type Test for Variances From Normal Populations
- Autor:
Peter S. Wludyka
Peter R. Nelson
- Página:
274
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1997-03.TXT
- Documento número 1446021
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- Artículo:
A Systematic Approach to the Analysis of Complex Interaction Patterns in TwoLevel Factorial Designs
- Autor:
James J. Filliben
Ker-Chau Li
- Página:
286
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1997-03.TXT
- Documento número 1446022
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