- importsource = "15582493-2010-01.txt"
- Artículo:
Best practices aren’t foolproof
- Resumen:
The largest culprits are errors in requirements and failure to adapt the program tu humans
- Página:
09
- Sección:
Parity bit
- Publicación:
Embedded Systems Design
- Volúmen:
23
- Número:
01
- Periodo:
Enero – Febrero 2010
- ISSN:
15582493
- SrcID:
15582493-2010-01.txt
- Documento número 1029303
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 11:11:16 a. m.
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- Artículo:
Variations on a flexible array theme
- Autor:
Dan Saks
- Resumen:
Different dialects of C and C++ support different forms of flexible array members
- Página:
11
- Sección:
Programming pointers
- Publicación:
Embedded Systems Design
- Volúmen:
23
- Número:
01
- Periodo:
Enero – Febrero 2010
- ISSN:
15582493
- SrcID:
15582493-2010-01.txt
- Documento número 1029304
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 11:11:16 a. m.
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- Artículo:
Layering it on a new approach to automating system tests
- Autor:
Adrian Raileanu
Bodgan Ionita
Diana Craciun
- Resumen:
Here’s a layered approach to testing that uses software
- Página:
18
- Sección:
Cover feature
- Publicación:
Embedded Systems Design
- Volúmen:
23
- Número:
01
- Periodo:
Enero – Febrero 2010
- ISSN:
15582493
- SrcID:
15582493-2010-01.txt
- Documento número 1029305
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- Artículo:
When good compilers go bad, or what you see is not what you execute
- Autor:
Paul Anderson
Thomas W. Reps
- Página:
29
- Sección:
Feature
- Publicación:
Embedded Systems Design
- Volúmen:
23
- Número:
01
- Periodo:
Enero – Febrero 2010
- ISSN:
15582493
- SrcID:
15582493-2010-01.txt
- Documento número 1029306
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- Artículo:
Remembering the memories
- Autor:
Jack G. Ganssle
- Resumen:
A trip down memory lane reveals more about how memory radically changed the nature of digital electronics
- Página:
37
- Sección:
Break points
- Publicación:
Embedded Systems Design
- Volúmen:
23
- Número:
01
- Periodo:
Enero – Febrero 2010
- ISSN:
15582493
- SrcID:
15582493-2010-01.txt
- Documento número 1029307
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