- isn = "00401706"
- Artículo:
Response
- Autor:
William H. Woodall
Rachelle Koudelik
Kwok Leung Tsui
Seoung Bum Kim
Zachary G Stoumbos
Christos P. Carvounis
- Página:
29
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
45
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 2003
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2003-01.txt
- Documento número 1446178
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:52:17 p. m.
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- Artículo:
The Trend-Renewal Process for Statistical Analysis of Repairable Systems
- Autor:
B. H. Lindqvist
G. Elvebakk
K. Heggland
- Página:
31
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
45
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 2003
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2003-01.txt
- Documento número 1446179
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- Artículo:
Letter to the Editor
- Autor:
F. R. Anscombe
- Página:
45
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
45
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 2003
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2003-01.txt
- Documento número 1446180
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- Artículo:
Model-Robust Test Plans With Applications in Accelerated Life Testing
- Autor:
Francis G. Pascual
Grace Montepiedra
- Página:
47
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
45
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 2003
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2003-01.txt
- Documento número 1446181
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- Artículo:
A Bayesian Semiparametric Analysis of the Reliability and Maintenance of Machine Tools
- Autor:
Jason R. W. Merrick
Refik Soyer
Thomas A. Mazzuchi
- Página:
58
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
45
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 2003
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2003-01.txt
- Documento número 1446182
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