1. isn = "00401706"
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Artículo:

A nonlinear random-coefficients model for degradation testing

Autor:

Suk Joo Bae

Paul H. Kvam

Página:

460

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

46

Número:

4

Periodo:

Noviembre 2004

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-2004-11.txt

  • Documento número 1446243
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Artículo:

Optimal progressive censoring plans for the weibull distribution

Autor:

H. K. T. Ng

P. S. Chan

N. Balakrishnan

Página:

470

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

46

Número:

4

Periodo:

Noviembre 2004

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-2004-11.txt

  • Documento número 1446244
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Artículo:

A new statistic for influence in linear regression

Autor:

Daniel Peña

Página:

1

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

47

Número:

1

Periodo:

Febrero 2005

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-2005-02.txt

  • Documento número 1446245
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Artículo:

Multidimentional penalized signal regression

Autor:

Brian D. Marx

Paul H. C. Eilers

Página:

13

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

47

Número:

1

Periodo:

Febrero 2005

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-2005-02.txt

  • Documento número 1446246
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Artículo:

A Bayesian approach for predicting with polynomial regression of unknown degree

Autor:

Irwin Guttman

Daniel Peña

Dolores Redondas

Página:

23

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

47

Número:

1

Periodo:

Febrero 2005

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-2005-02.txt

  • Documento número 1446247
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