- isn = "00401706"
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- Artículo:
A nonlinear random-coefficients model for degradation testing
- Autor:
Suk Joo Bae
Paul H. Kvam
- Página:
460
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
46
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2004
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2004-11.txt
- Documento número 1446243
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:53:31 p. m.
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- Artículo:
Optimal progressive censoring plans for the weibull distribution
- Autor:
H. K. T. Ng
P. S. Chan
N. Balakrishnan
- Página:
470
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
46
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2004
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2004-11.txt
- Documento número 1446244
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- Artículo:
A new statistic for influence in linear regression
- Autor:
Daniel Peña
- Página:
1
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
47
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 2005
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2005-02.txt
- Documento número 1446245
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:53:43 p. m.
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- Artículo:
Multidimentional penalized signal regression
- Autor:
Brian D. Marx
Paul H. C. Eilers
- Página:
13
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
47
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 2005
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2005-02.txt
- Documento número 1446246
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:53:43 p. m.
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- Artículo:
A Bayesian approach for predicting with polynomial regression of unknown degree
- Autor:
Irwin Guttman
Daniel Peña
Dolores Redondas
- Página:
23
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
47
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 2005
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2005-02.txt
- Documento número 1446247
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