- isn = "00401706"
- Artículo:
Designs of Mixed Resolution for Process Robustness Studies
- Autor:
John J. Borkowski
James M. Lucas
- Página:
63
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1997-01.TXT
- Documento número 1699422
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:29 p. m.
- Creado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:29 p. m.
- Enlace directo
- Artículo:
Variance Components in the Two-Way Nested Model with Incomplete Nesting Information
- Autor:
Ruiguang Song
Stanley A. Shulman
- Página:
71
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1997-01.TXT
- Documento número 1699423
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:29 p. m.
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- Artículo:
On the Use of the Factor-Sparsity Assumption to Get an Estimate of the Variance in Saturated Designs
- Autor:
Joachim Kunert
- Página:
81
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1997-01.TXT
- Documento número 1699424
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:29 p. m.
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- Artículo:
Multivariate Discrimination Methods for Top Quark Analysis
- Autor:
Lasse Holmstrom
Stephen R. Sain
- Página:
91
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1997-01.TXT
- Documento número 1699425
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- Artículo:
Monitoring Wafer Map Data from Integrated Circuit Fabrication Processes for Spatially Clustered Defects
- Autor:
Mark H. Hansen
Vijayan N. Nair
David J. Friedman
- Página:
241
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1997-03.TXT
- Documento número 1699426
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