- isn = "00401706"
- Artículo:
Multivariate Discrimination Methods for Top Quark Analysis
- Autor:
Lasse Holmstrom
Stephen R. Sain
- Página:
91
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1997-01.TXT
- Documento número 1699425
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:29 p. m.
- Creado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:29 p. m.
- Enlace directo
- Artículo:
Monitoring Wafer Map Data from Integrated Circuit Fabrication Processes for Spatially Clustered Defects
- Autor:
Mark H. Hansen
Vijayan N. Nair
David J. Friedman
- Página:
241
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1997-03.TXT
- Documento número 1699426
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- Artículo:
Regression Analysis for a Functional Response
- Autor:
Julian J. Faraway
- Página:
254
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1997-03.TXT
- Documento número 1699427
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:29 p. m.
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- Artículo:
Local Polyrlomial Variance-Function Estimation
- Autor:
David Ruppert
M. P. Wand
Ulla Holst
Ola Hossjer
- Página:
262
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1997-03.TXT
- Documento número 1699428
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- Artículo:
An Analysis-of-Means-Type Test for Variances from Normal Populations
- Autor:
Peter S. Wludyka
Peter R. Nelson
- Página:
274
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1997-03.TXT
- Documento número 1699429
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