- importsource = "00401706-2008-04.txt"
- Artículo:
Comment
- Autor:
Lang, Duncan Temple
- Resumen:
The article presents commentaries on the forecasts of Leland Wilkinson on statistical computing
- Página:
443
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-04.txt
- Documento número 464225
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 04:11:18 p. m.
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- Enlace directo
- Artículo:
Rejoinder
- Autor:
Wilkinson, Leland
- Resumen:
The article presents the response of Leland Wilkinson on her forecasts regarding statistical computing
- Página:
446
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-04.txt
- Documento número 464226
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- Artículo:
Robust Target Localization From Binary Decisions in Wireless Sensor Networks
- Autor:
Katenka, Natallia
Levina, Elizaveta
Michailidis, George
- Resumen:
Wireless sensor networks (WSN5) are becoming important tools in various tasks, including monitoring and tracking of spatially occurring phenomena
- Página:
448
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-04.txt
- Documento número 464227
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 04:11:18 p. m.
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- Artículo:
Length Bias in the Measurements of Carbon Nanotubes
- Autor:
Kvam, Paul
- Resumen:
To measure carbon nanotube lengths, atomic force microscopy and special software are used to identify and measure nanotubes on a square grid
- Página:
462
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-04.txt
- Documento número 464228
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 04:11:18 p. m.
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- Artículo:
Measurement System Analysis for Binary Data
- Autor:
van Wieringen, Wessel N.
De Mast, Jeroen
- Resumen:
We describe a methodology for the assessment of the repeatability and reproducibility (R&R) of measurement systems that measure on a binary scale, such as pass-fail inspections
- Página:
468
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-04.txt
- Documento número 464229
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