- importsource = "00401706-1987-01.txt"
- Artículo:
Performance of Likelihood – Based Interval Estimates for Two – Parameter Exponential Samples Subject to Type I Censoring
- Autor:
Walter W. Piegorsch
- Página:
41
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
29
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1987
- ISSN:
00401706
- SrcID:
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- Documento número 1363614
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 11:51:11 a. m.
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- Enlace directo
- Artículo:
Limited Failure Population Life Tests: Application to Integrated Circuit Reliability
- Autor:
William Q. Meeker
- Página:
51
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
29
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1987
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1987-01.txt
- Documento número 1363615
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- Artículo:
Computational Experience With Confidence Regions and Confidence Intervals for Nonlinear Least Squares
- Autor:
Janet R. Donaldson
Robert B. Schnabel
- Página:
67
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
29
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1987
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1987-01.txt
- Documento número 1363616
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- Artículo:
Detecting Skewed Errors From Regression Residuals
- Autor:
Dennis D. Boos
- Página:
83
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
29
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1987
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1987-01.txt
- Documento número 1363617
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- Artículo:
A Comparison of Alternative Tests for Lack of Fit
- Autor:
Norman R. Draper
Irwin Guttman
- Página:
91
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
29
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1987
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1987-01.txt
- Documento número 1363618
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