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Artículo:

Limited Failure Population Life Tests: Application to Integrated Circuit Reliability

Autor:

William Q. Meeker

Página:

51

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

29

Número:

1

Periodo:

Febrero 1987

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-1987-01.txt

  • Documento número 463586
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Artículo:

Computational Experience With Confidence Regions and Confidence Intervals for Nonlinear Least Squares

Autor:

Janet R. Donaldson

Robert B. Schnabel

Página:

67

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

29

Número:

1

Periodo:

Febrero 1987

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-1987-01.txt

  • Documento número 463587
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Artículo:

Detecting Skewed Errors From Regression Residuals

Autor:

Dennis D. Boos

Página:

83

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

29

Número:

1

Periodo:

Febrero 1987

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-1987-01.txt

  • Documento número 463588
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Artículo:

A Comparison of Alternative Tests for Lack of Fit

Autor:

Norman R. Draper

Irwin Guttman

Página:

91

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

29

Número:

1

Periodo:

Febrero 1987

ISSN:

00401706

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00401706-1987-01.txt

  • Documento número 463589
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Artículo:

Takemi Yanagimoto

Autor:

Masakatsu Yanagimoto

Página:

95

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

29

Número:

1

Periodo:

Febrero 1987

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-1987-01.txt

  • Documento número 463590
  • Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 04:11:15 p. m.
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