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- Artículo:
Limited Failure Population Life Tests: Application to Integrated Circuit Reliability
- Autor:
William Q. Meeker
- Página:
51
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
29
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1987
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1987-01.txt
- Documento número 463586
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 04:11:15 p. m.
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- Artículo:
Computational Experience With Confidence Regions and Confidence Intervals for Nonlinear Least Squares
- Autor:
Janet R. Donaldson
Robert B. Schnabel
- Página:
67
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
29
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1987
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1987-01.txt
- Documento número 463587
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- Artículo:
Detecting Skewed Errors From Regression Residuals
- Autor:
Dennis D. Boos
- Página:
83
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
29
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1987
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1987-01.txt
- Documento número 463588
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 04:11:15 p. m.
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- Artículo:
A Comparison of Alternative Tests for Lack of Fit
- Autor:
Norman R. Draper
Irwin Guttman
- Página:
91
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
29
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1987
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1987-01.txt
- Documento número 463589
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 04:11:15 p. m.
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- Artículo:
Takemi Yanagimoto
- Autor:
Masakatsu Yanagimoto
- Página:
95
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
29
- Número:
1
- Periodo:
Febrero 1987
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1987-01.txt
- Documento número 463590
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 04:11:15 p. m.
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