- importsource = ("00401706 -1997-03.TXT")
- Artículo:
Optimal Blocking Schemes for 2n and 2n-P Designs
- Autor:
Don X. Sun
C.F. Jeff Wu
Youyi Chen
- Página:
298
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1997-03.TXT
- Documento número 1446023
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:48:42 p. m.
- Creado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:48:42 p. m.
- Enlace directo
- Artículo:
An Efficient Sampling Technique for Offline Quality Control
- Autor:
Jayant R. Kalagnanam
Urmila M. Diwekar
- Página:
308
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1997-03.TXT
- Documento número 1446024
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:48:42 p. m.
- Creado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:48:42 p. m.
- Enlace directo
- Artículo:
Resistant and Test-Based Outlier Rejection: Effects on Gaussian One-and TwoSample Inference
- Autor:
V.J. Carey
E. E. Walters
C.G. Wager
B.A. Rosner
- Página:
320
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1997-03.TXT
- Documento número 1446025
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:48:42 p. m.
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- Enlace directo
- Artículo:
Monitoring Wafer Map Data from Integrated Circuit Fabrication Processes for Spatially Clustered Defects
- Autor:
Mark H. Hansen
Vijayan N. Nair
David J. Friedman
- Página:
241
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
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- Documento número 1699426
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:29 p. m.
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- Artículo:
Regression Analysis for a Functional Response
- Autor:
Julian J. Faraway
- Página:
254
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
39
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 1997
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1997-03.TXT
- Documento número 1699427
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:29 p. m.
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