1. aut = "A. Alabadelah"
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Artículo:

Detecting variations of small-signal equivalent-circuit model parameters in the Si/SiGe HBT process with ANN

Autor:

H. Taher

D. Schreurs

R. Gillion

E. Vestile

C. van Niekerk

A. Alabadelah

B. Nauwelaers

Página:

102

Publicación:

International Journal of RF and Microwave Computer Aided Engineering

Volúmen:

15

Número:

1

Periodo:

Enero 2005

ISSN:

10964290

SrcID:

10964290-2005-01.txt

  • Documento número 1665449
  • Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:38:50 p. m.
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Artículo:

Detecting variations of small-signal equivalent-circuit model parameters in the Si/SiGe HBT process with ANN

Autor:

H. Taher

D. Schreurs

R. Gillion

E. Vestile

C. van Niekerk

A. Alabadelah

B. Nauwelaers

Página:

102

Publicación:

International Journal of RF and Microwave Computer Aided Engineering

Volúmen:

15

Número:

1

Periodo:

Enero 2005

ISSN:

10964290

SrcID:

10964290-2005-01.txt

  • Documento número 1600654
  • Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 11:56:59 a. m.
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Artículo:

Detecting variations of small-signal equivalent-circuit model parameters in the Si/SiGe HBT process with ANN

Autor:

H. Taher

D. Schreurs

R. Gillion

E. Vestile

C. van Niekerk

A. Alabadelah

B. Nauwelaers

Página:

102

Publicación:

International Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering

Volúmen:

15

Número:

1

Periodo:

Enero 2005

ISSN:

10964290

SrcID:

10964290-2005-01.txt

  • Documento número 1443708
  • Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 05:58:49 p. m.
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Artículo:

Detecting variations of small-signal equivalent-circuit model parameters in the Si/SiGe HBT process with ANN

Autor:

H. Taher

D. Schreurs

R. Gillion

E. Vestile

C. van Niekerk

A. Alabadelah

B. Nauwelaers

Página:

102

Publicación:

International Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering

Volúmen:

15

Número:

1

Periodo:

Enero 2005

ISSN:

10964290

SrcID:

10964290-2005-01.txt

  • Documento número 1559886
  • Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 11:50:23 a. m.
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Artículo:

Detecting variations of small-signal equivalent-circuit model parameters in the Si/SiGe HBT process with ANN

Autor:

H. Taher

D. Schreurs

R. Gillion

E. Vestile

C. van Niekerk

A. Alabadelah

B. Nauwelaers

Página:

102

Publicación:

International Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering

Volúmen:

15

Número:

1

Periodo:

Enero 2005

ISSN:

10964290

SrcID:

10964290-2005-01.txt

  • Documento número 1624681
  • Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:03:49 p. m.
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