- aut = "Yuen, Grace"
- Artículo:
ATM damage response and XLF repair factor are functionally redundant in joining DNA breaks
- Autor:
Shan Zha
Chunguang Guo
Boboila, Cristian
Oksenych, Valentyn
Hwei-Ling Cheng
Yu Zhang
Wesemann, Duane R.
Yuen, Grace
Patel, Harin
Goff, Peter H.
Dubois, Richard L.
Alt, Frederick W.
- Página:
250
- Publicación:
Nature
- Volúmen:
469
- Número:
7329
- Fecha:
13 Enero 2011
- ISSN:
00280836
- SrcID:
00280836-2011-01-13.txt
- Documento número 309419
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 03:58:30 p. m.
- Creado el martes, 23 de mayo de 2017 03:58:30 p. m.
- Enlace directo
- Artículo:
ATM damage response and XLF repair factor are functionally redundant in joining DNA breaks
- Autor:
Shan Zha
Chunguang Guo
Boboila, Cristian
Oksenych, Valentyn
Hwei-Ling Cheng
Yu Zhang
Wesemann, Duane R.
Yuen, Grace
Patel, Harin
Goff, Peter H.
Dubois, Richard L.
Alt, Frederick W.
- Página:
250
- Publicación:
Nature
- Volúmen:
469
- Número:
7329
- Fecha:
13 Enero 2011
- ISSN:
00280836
- SrcID:
00280836-2011-01-13.txt
- Documento número 727948
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:36:22 a. m.
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- Artículo:
ATM damage response and XLF repair factor are functionally redundant in joining DNA breaks
- Autor:
Shan Zha
Chunguang Guo
Boboila, Cristian
Oksenych, Valentyn
Hwei-Ling Cheng
Yu Zhang
Wesemann, Duane R.
Yuen, Grace
Patel, Harin
Goff, Peter H.
Dubois, Richard L.
Alt, Frederick W.
- Página:
250
- Publicación:
Nature
- Volúmen:
469
- Número:
7329
- Fecha:
13 Enero 2011
- ISSN:
00280836
- SrcID:
00280836-2011-01-13.txt
- Documento número 1208288
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 11:34:11 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 11:34:11 a. m.
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