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- Artículo:
An Accelerated Life Test Model Based on Reliability Kinetics
- Autor:
William Q. Meeker
Michael J. LuValle
- Página:
133
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
37
- Número:
2
- Periodo:
Mayo 1995
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1995-02.TXT
- Documento número 1699365
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:29 p. m.
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- Artículo:
Confidence Limits for Recurrence Data--Applied to Cost or Number of Product Repairs
- Autor:
Wayne Nelson
- Página:
147
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
37
- Número:
2
- Periodo:
Mayo 1995
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1995-02.TXT
- Documento número 1699366
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- Artículo:
Some Simple Robust Methods for the Analysis of Recurrent Events
- Autor:
J. F. Lawless
C. Nadeau
- Página:
158
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
37
- Número:
2
- Periodo:
Mayo 1995
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1995-02.TXT
- Documento número 1699367
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- Artículo:
A Nonparametric Test of the Weakest-Link Principle
- Autor:
Linda C. Wolstenholme
- Página:
169
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
37
- Número:
2
- Periodo:
Mayo 1995
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -1995-02.TXT
- Documento número 1699368
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:29 p. m.
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- Artículo:
A Two-Component Model for Measurement Error in Analytical Chemistry
- Autor:
David M. Rocke
Stefan Lorenzato
- Página:
176
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
37
- Número:
2
- Periodo:
Mayo 1995
- ISSN:
00401706
- SrcID:
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- Documento número 1699369
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