- importsource = "00401706-2000-03.TXT"
- Artículo:
Checking for lack of fit in linear models With parametric variance fuctions
- Autor:
Edward J. Bedrick
- Página:
227
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
42
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2000
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2000-03.TXT
- Documento número 1446102
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:50:43 p. m.
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- Enlace directo
- Artículo:
Uniform desing: Theory and application
- Autor:
Kai - Tai Fang
Dennis K. J. Lin
Peter Winker
Yong Zhang
- Página:
237
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
42
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2000
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2000-03.TXT
- Documento número 1446103
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- Artículo:
Partial residual plots based on robust fits
- Autor:
Joseph W. McKean
Simon J. Sheather
- Página:
249
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
42
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2000
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2000-03.TXT
- Documento número 1446104
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- Artículo:
Deterministic / Stochatic Wavelet decomposition for recovery of signal from noisy data
- Autor:
H. - C. Huang
N. Cressie
- Página:
262
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
42
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2000
- ISSN:
00401706
- SrcID:
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- Documento número 1446105
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- Artículo:
Employing symmetry constraints for improved frequency estimation by eigenanalysis methods
- Autor:
Gordon K. Smyth
- Página:
277
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
42
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2000
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2000-03.TXT
- Documento número 1446106
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