- importsource = "00401706-2008-01.txt"
- Artículo:
Technometrics at Fifty
- Autor:
Steinberg, David M.
- Página:
1
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
1
- Periodo:
febrero 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-01.txt
- Documento número 642534
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:26:13 a. m.
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- Enlace directo
- Artículo:
Technometrics: How It All Started
- Autor:
Steinberg, David M.
Bisgaard, Søren
- Página:
2
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
1
- Periodo:
febrero 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
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- Documento número 642535
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- Enlace directo
- Artículo:
Evaluating Experiments for Estimating the Bit Failure Cross-Section of Semiconductors Using a Colored Spectrum Neutron Beam
- Autor:
Hengartner, Nicolas W.
Takala, Bruce E.
Michalak, Sarah E.
Wender, Stephen A.
- Página:
8
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
1
- Periodo:
febrero 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-01.txt
- Documento número 642536
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- Artículo:
A Critical Assessment of Two-Stage Group Screening Through Industrial Experimentation
- Autor:
Vine, A. E.
Dean, A. M.
Lewis, S. M.
Brunson, D.
- Página:
15
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
1
- Periodo:
febrero 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-01.txt
- Documento número 642537
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- Artículo:
New E(s²)-Optimal Supersaturated Designs Constructed From Incomplete Block Designs
- Autor:
Nam-Ky Nguyen
Ching-Shui Cheng
- Página:
26
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
1
- Periodo:
febrero 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-01.txt
- Documento número 642538
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