- isn = ("10964290 ´")
- Artículo:
Model order reduction of linear and nonlinear 3D thermal finite-element description of microwave devices for circuit analysis
- Autor:
R. Sommet
C. Chang
R. Quéré
- Página:
398
- Publicación:
Internacional Journal Of RF And Microwave Computer-Aided Engineering
- Volúmen:
15
- Número:
5
- Periodo:
September 2005
- ISSN:
10964290
- SrcID:
10964290-2005-05.txt
- Documento número 844260
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:14 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:14 a. m.
- Enlace directo
- Artículo:
A 3V variable gain amplifier in Si/SiGe BiCMOS technology for 5-GHz WLAN applications
- Autor:
F. Alimenti
V. Palazzari
A. Scorzoni
- Página:
412
- Publicación:
Internacional Journal Of RF And Microwave Computer-Aided Engineering
- Volúmen:
15
- Número:
5
- Periodo:
September 2005
- ISSN:
10964290
- SrcID:
10964290-2005-05.txt
- Documento número 844261
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:14 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:14 a. m.
- Enlace directo
- Artículo:
Matching network design criteria for wideband high frequency amplifiers
- Autor:
P. Colantonio
F. Giannini
L. Scucchia
- Página:
423
- Publicación:
Internacional Journal Of RF And Microwave Computer-Aided Engineering
- Volúmen:
15
- Número:
5
- Periodo:
September 2005
- ISSN:
10964290
- SrcID:
10964290-2005-05.txt
- Documento número 844262
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:14 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:14 a. m.
- Enlace directo
- Artículo:
Load impedance selection for maximized large signal IMD sweet spot effects
- Autor:
N. B. Carvalho
J. A. García
E. Azpitarte
- Página:
434
- Publicación:
Internacional Journal Of RF And Microwave Computer-Aided Engineering
- Volúmen:
15
- Número:
5
- Periodo:
September 2005
- ISSN:
10964290
- SrcID:
10964290-2005-05.txt
- Documento número 844263
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:14 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:14 a. m.
- Enlace directo
- Artículo:
Accurate modeling of electron device I/V characteristics through a simplified large signal measurement setup
- Autor:
A. Raffo
A. Santarelli
P. A. Traverso
- Página:
441
- Publicación:
Internacional Journal Of RF And Microwave Computer-Aided Engineering
- Volúmen:
15
- Número:
5
- Periodo:
September 2005
- ISSN:
10964290
- SrcID:
10964290-2005-05.txt
- Documento número 844264
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:14 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 10:50:14 a. m.
- Enlace directo
