- importsource = "00401706-2006-01.txt"
- Artículo:
Wavelet-Based Data Reduction Techniques for Process Fault Detection
- Autor:
Myong K Jeong
Jye-Chyi Lu
Xiaoming Huo
Brani Vidakovic
Di Chen
- Página:
26
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
48
- Número:
1
- Fecha:
febrero 2006
- ISSN:
00401706
- SrcID:
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- Documento número 464044
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 04:11:17 p. m.
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- Enlace directo
- Artículo:
Testing for Dependency of Failure Times in Life Testing
- Autor:
John I McCool
- Página:
41
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
48
- Número:
1
- Fecha:
febrero 2006
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2006-01.txt
- Documento número 464045
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- Artículo:
Bayesian Methods for Planning Accelerated Life Tests
- Autor:
Yao Zhang
William Q Meeker
- Página:
49
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
48
- Número:
1
- Fecha:
febrero 2006
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2006-01.txt
- Documento número 464046
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- Artículo:
Recursive Estimation of Dynamic Models Using Cook's Distance, With Application to Wind Energy Forecast
- Autor:
Ismael Sánchez
- Página:
61
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
48
- Número:
1
- Fecha:
febrero 2006
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2006-01.txt
- Documento número 464047
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- Artículo:
Sensitivity Analysis of Dynamic Models to Uncertainties in Inputs Data With Time-Varying Variances
- Autor:
Nacim Ramdani
Yves Candau
Gilles Guyon
Christophe Dalibart
- Página:
74
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
48
- Número:
1
- Fecha:
febrero 2006
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2006-01.txt
- Documento número 464048
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