- isn = "00401706"
- Artículo:
Monitoring Profiles Based on Nonparametric Regression Methods
- Autor:
Changliang Zou
Fugee Tsung
Zhaojun Wang
- Resumen:
The use of statistical process control (SPC) in monitoring and diagnosis of process and product quality profiles remains an important problem in various manufacturing industries
- Página:
512
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-04.txt
- Documento número 540648
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:14:01 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 10:14:01 a. m.
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- Artículo:
Sequential Experiment Design for Contour Estimation From Complex Computer Codes
- Autor:
Ranjan, Pritam
Bingham, Derek
Michailidis, George
- Resumen:
Computer simulation often is used to study complex physical and engineering processes. Although a computer simulator often can be viewed as an inexpensive way to gain insight into a system
- Página:
527
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-04.txt
- Documento número 540649
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:14:01 a. m.
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- Artículo:
Generalized Linear Models With Random Effects
- Autor:
Ghosh, Subir
- Resumen:
The article reviews the book "Generalized Linear Models With Random Effects," by Youngjo Lee, John A. Nelder and Yudi Pawitan
- Página:
542
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-04.txt
- Documento número 540650
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:14:01 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 10:14:01 a. m.
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- Artículo:
Technometrics at Fifty
- Autor:
Steinberg, David M.
- Página:
1
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
1
- Periodo:
febrero 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-01.txt
- Documento número 642534
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:26:13 a. m.
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- Artículo:
Technometrics: How It All Started
- Autor:
Steinberg, David M.
Bisgaard, Søren
- Página:
2
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
50
- Número:
1
- Periodo:
febrero 2008
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-2008-01.txt
- Documento número 642535
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 10:26:13 a. m.
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