- isn = "00401706"
- Artículo:
Partial residual plots based on robust fits
- Autor:
Joseph W. McKean
Simon J. Sheather
- Página:
249
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
42
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2000
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -2000-03.TXT
- Documento número 1699512
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:30 p. m.
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- Artículo:
- Autor:
Deterministic, Stochastic Wavelet decomposition for recovery of signal from noisy data
H. C. Huang
N. Cressie
- Página:
262
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
42
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2000
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -2000-03.TXT
- Documento número 1699513
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- Artículo:
Employing symmetry constraints for improved frequency estimation by eigen analysis methods
- Autor:
Gordon K. Smyth
- Página:
277
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
42
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2000
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -2000-03.TXT
- Documento número 1699514
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- Artículo:
Dynamic response of residuals to external deviations in a controlled Production process
- Autor:
Jiangbin Yang
Villiam Makis
- Página:
290
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
42
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2000
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -2000-03.TXT
- Documento número 1699515
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- Artículo:
Modeling and Analysis of engineering systems data using flowgraph models
- Autor:
Aparna V. Huzurbazar
- Página:
300
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
42
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2000
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -2000-03.TXT
- Documento número 1699516
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