- isn = "00401706"
- Artículo:
Identifying spatial variation patterns in multivariate manufacturing processes: a blind separation approaches
- Autor:
Daniel W. Apley
Ho Young Lee
- Página:
220
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
45
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2003
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -2003-03.txt
- Documento número 1699597
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:31 p. m.
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- Artículo:
D-Optimal split-plot designs with given numbers and sizes of whole plots
- Autor:
Peter Goos
Martina Vandebroek
- Página:
235
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
45
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2003
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -2003-03.txt
- Documento número 1699598
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- Artículo:
A global selection procedure for polynomial interpolators
- Autor:
Ron A. Bates
Beatrice Giglio
Henry P. Wynn
- Página:
246
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
45
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2003
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -2003-03.txt
- Documento número 1699599
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- Artículo:
Estimation of clock offset using bootstrap bias-correction techniques
- Autor:
Daniel R. Jeske
Ashwin Sampath
- Página:
256
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
45
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2003
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -2003-03.txt
- Documento número 1699600
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- Artículo:
Robust Parameter Design With Feed-Forward Control
- Autor:
V. Roshan Joseph
- Página:
284
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
45
- Número:
4
- Periodo:
Noviembre 2003
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -2003-04.txt
- Documento número 1699601
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