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Artículo:

Cramer-von Mises Tests for the Compatibility of Two Software Operating Environments

Autor:

Jeske, D. R.

Stephens, M.A.

Lockhart, R. A.

Zhang, Q.

Página:

53

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

50

Número:

1

Periodo:

febrero 2008

ISSN:

00401706

SrcID:

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  • Documento número 642541
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Artículo:

Avoiding Problems With Normal Approximation Confidence Intervals for Probabilities

Autor:

Hong, Yill

Meeker, William Q.

Escobar, Luis A.

Página:

64

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

50

Número:

1

Periodo:

febrero 2008

ISSN:

00401706

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  • Documento número 642542
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Artículo:

Normal-Based Methods for a Gamma Distribution: Prediction and Tolerance Intervals and Stress-Strength Reliability

Autor:

Krishnamoorthy, K.

Mathew, Thomas

Mukherjee, Shubhabrata

Página:

69

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

50

Número:

1

Periodo:

febrero 2008

ISSN:

00401706

SrcID:

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  • Documento número 642543
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Artículo:

On the Reliability of the Self-Dual k-Out-of-n Systems

Autor:

Carreras, Francesc

Freixas, Josep

Puente, Marí Albina

Página:

79

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

50

Número:

1

Periodo:

febrero 2008

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-2008-01.txt

  • Documento número 642544
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Artículo:

Letter to the Editor

Autor:

de Castro, Mário

Galea-Rojas, Manuel

Bolfarine, Heleno

Página:

86

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

50

Número:

1

Periodo:

febrero 2008

ISSN:

00401706

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00401706-2008-01.txt

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