- Artículo:
Graphite thin film characterization using a simplified resonant near field scanning microwave microscope
- Autor:
G. López-Maldonado
N. Qureshi
O. V. Kolokoltsev
- Página:
88
- Publicación:
Revista Mexicana de Física
- Volúmen:
60
- Número:
1
- Periodo:
enero – febrero 2014
- ISSN:
0035001x
- SrcID:
0035001X-2014-01.txt
- Documento número 1319136
- Actualizado el martes, 10 de julio de 2018 11:46:24 a. m.
- Creado el martes, 10 de julio de 2018 11:46:24 a. m.
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