Artículo:

High-Resolution Scanning X-ray Diffraction Microscopy

Autor:

Thibault, Pierre

Dierolf, Martin

Menzel, Andreas

Bunk, Oliver

David, Christian

Pfeiffer, Franz

Página:

379

Publicación:

Science

Volúmen:

321

Número:

5887

Fecha:

18 julio 2008

ISSN:

00368075

SrcID:

00368075-2008-07-18.txt