Artículo:

Bayesian Hierarchical Modeling for Integrating Low-Accuracy and High-Accuracy Experiments

Autor:

Qian, Peter Z.G.

Wu, C. F. Jeff

Página:

192

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

50

Número:

2

Periodo:

Mayo 2008

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-2008-02.txt