- Artículo:
An Accelerated Life Test Model Based on Reliability Kinetics
- Autor:
William Q. Meeker
Michael J. LuValle
- Página:
133
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
37
- Número:
2
- Periodo:
Mayo 1995
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1995-02.TXT
- Documento número 1445955
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:47:19 p. m.
- Creado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:47:19 p. m.
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