- Artículo:
Accelerated degradation tests: modeling and analysis
- Autor:
William Q. Meeker
- Página:
89
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
40
- Número:
2
- Periodo:
Mayo 1998
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706-1998-02.txt
- Documento número 1446033
- Actualizado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:49:07 p. m.
- Creado el sábado, 28 de noviembre de 2020 06:49:07 p. m.
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