Artículo:

Lot Acceptance and Compliance Testing Using the Sample Mean and an Extremum

Autor:

Mark G. Vangel

Página:

242

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

44

Número:

3

Periodo:

Agosto 2002

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-2002-03.txt