- Artículo:
Contained Erosion-Voiding in thin film crystalline interconnet metals.
- Autor:
A. Ramírez
- Página:
15
- Publicación:
CIENTÍFICA: THE MEXICAN JOURNAL OF ELECTROMECHANICAL ENGINEERING ISSN 16650654
- Volúmen:
8
- Número:
1
- Periodo:
ENERO - MARZO 2004
- SrcID:
2004-01CIEN.txt
- Documento número 1471598
- Actualizado el martes, 4 de mayo de 2021 07:38:58 a. m.
- Creado el martes, 4 de mayo de 2021 07:38:58 a. m.
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