- Artículo:
Detecting variations of small-signal equivalent-circuit model parameters in the Si/SiGe HBT process with ANN
- Autor:
H. Taher
D. Schreurs
R. Gillion
E. Vestile
C. van Niekerk
A. Alabadelah
B. Nauwelaers
- Página:
102
- Publicación:
International Journal of RF and Microwave Computer-Aided Engineering
- Volúmen:
15
- Número:
1
- Periodo:
Enero 2005
- ISSN:
10964290
- SrcID:
10964290-2005-01.txt
- Documento número 1559886
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 11:50:23 a. m.
- Creado el lunes, 13 de marzo de 2023 11:50:23 a. m.
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