- Artículo:
Novel technique for estimating metal semiconductor field effect transitory parasitics
- Autor:
Yaser A. Khalaf
Sedki M. Riad
- Página:
62
- Publicación:
International Journal of RF and Microwave Computer Aided Engineering
- Volúmen:
13
- Número:
1
- Periodo:
Enero 2003
- ISSN:
10964290
- SrcID:
10964290-2003-01.txt
- Documento número 1665356
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:38:49 p. m.
- Creado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:38:49 p. m.
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