Artículo:

Robust Calibration

Autor:

Chi-Lun Cheng

John W. Van Ness

Página:

401

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

39

Número:

4

Periodo:

Noviembre 1997

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706 -1997-04.TXT