- Artículo:
Identifying spatial variation patterns in multivariate manufacturing processes: a blind separation approaches
- Autor:
Daniel W. Apley
Ho Young Lee
- Página:
220
- Publicación:
Technometrics
- Volúmen:
45
- Número:
3
- Periodo:
Agosto 2003
- ISSN:
00401706
- SrcID:
00401706 -2003-03.txt
- Documento número 1699597
- Actualizado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:31 p. m.
- Creado el lunes, 13 de marzo de 2023 12:43:31 p. m.
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