Artículo:

Abatement of PFCs from Semiconductor Manufacturing Processes by Nonthermal Plasma Technologies: A Critical Review

Autor:

Moo Been Chang

Jen-Shih Chang

Página:

4101

Sección:

Reviews

Publicación:

Industrial and Engineering Chemistry Research

Volúmen:

45

Número:

12

Fecha:

7 June 2006

ISSN:

08885885

SrcID:

08885885-2006-06-07.txt