- Artículo:
Accurate modeling of electron device I/V characteristics through a simplified large signal measurement setup
- Autor:
A. Raffo
A. Santarelli
P. A. Traverso
- Página:
441
- Publicación:
Internacional Journal Of RF And Microwave Computer-Aided Engineering
- Volúmen:
15
- Número:
5
- Periodo:
September 2005
- ISSN:
10964290
- SrcID:
10964290-2005-05.txt
- Documento número 224004
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 03:50:42 p. m.
- Creado el martes, 23 de mayo de 2017 03:50:42 p. m.
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