- Artículo:
Capacitance-Voltage profiling: Research -grade approach versus low-cost alternatives
- Autor:
Neal D. Reynolds
Cristian D. Panda
John M. Essick
- Página:
196
- Publicación:
American Journal of Physics
- Volúmen:
82
- Número:
3
- Periodo:
marzo 2014
- ISSN:
00029505
- SrcID:
00029505-2014-03.txt
- Documento número 25711
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 03:30:02 p. m.
- Creado el martes, 23 de mayo de 2017 03:30:02 p. m.
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