- Artículo:
Scanning capacitance microscopy using a relaxation oscillator
- Autor:
M. Pahlmeyer
A. Hankins
S. Tuppan
- Página:
104
- Publicación:
American Journal of Physics
- Volúmen:
83
- Número:
2
- Periodo:
Febrero 2015
- ISSN:
00029505
- SrcID:
00029505-2015-02.txt
- Documento número 25858
- Actualizado el martes, 23 de mayo de 2017 03:30:03 p. m.
- Creado el martes, 23 de mayo de 2017 03:30:03 p. m.
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