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Artículo:

Length Bias in the Measurements of Carbon Nanotubes

Autor:

Kvam, Paul

Resumen:

To measure carbon nanotube lengths, atomic force microscopy and special software are used to identify and measure nanotubes on a square grid

Página:

462

Publicación:

Technometrics

Volúmen:

50

Número:

4

Periodo:

Noviembre 2008

ISSN:

00401706

SrcID:

00401706-2008-04.txt

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